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粒度分析儀在測量中應該注意的事項

更新時間:2021-06-23瀏覽:2466次

  粒度分析儀在測量中應該注意哪些呢:
 
  不同粒度分析儀技術的局限性:不同粒度分析技術都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線寬的顆粒;沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響,又受小尺寸端擴散(布朗運動)的限制。一些測量儀器也會因制作和操作規(guī)程帶來一定限制。有時測量技術還對測量樣品的準備提出限制,PCS測量必須使顆粒懸浮,電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此,了解測量技術的局限性和嚴格滿足其限制要求.對獲取正確測量結(jié)果非常必要。
 
  測量基準:不同粒度分析儀技術的原理不同,原信息源和計量目標不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強度,要求防止細顆粒中少數(shù)大顆粒對信息源的支配.電敏技術則按顆體積計數(shù),因此各方法的基準不同,彼此不能簡單歸一同比。所以必須強調(diào)數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化因基準不同會帶來明顯的誤差。
 
  分離顆粒的能力與粒度測試技術選擇:依據(jù)對顆粒的分離能力.可將測量顆粒的技術分為單顆粒計數(shù)、顆粒分級和整體平均結(jié)果三類。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術方法;分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等;整體平均的粒度分析方法,從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析,即測量結(jié)果由解析得到,是被測顆粒整體的平均,因此易于實現(xiàn)自動化和在線分析,但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法,實驗室研究多數(shù)情況希望獲得單顆粒技術與外貌信息,分級方法的選擇,應當結(jié)合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。
 
  粒度分析儀的信息與技術指標要求:粒度分析儀的信息要求.是指給出結(jié)果的表達方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數(shù)正態(tài)分布、非對稱分布寬度、多峰分布的各峰相對量,以及累加頻率的不同名義(如顆粒數(shù)、體積、面積等)表達。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數(shù)分布。

 

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